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膜厚测试仪

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主要用于混合电路中各种基材上的膜厚测量,对印刷工艺进行分析和质量控制。以及对环氧胶,凸点或其它印刷和涂覆点的测量。分辨率最小到0.125微米,测量范围到500微米。Y方向扫描行程 50mm.


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